5G核心測試包括：5G網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)改變帶來的測量技術(shù)創(chuàng)新、5G新空口技術(shù)測量、5G需求產(chǎn)生的新設(shè)備測量、新的應(yīng)用測量、現(xiàn)場測試以及適合5G新技術(shù)的測試測量方法設(shè)計(jì)。
由5G網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)的改變，而產(chǎn)生新的傳輸網(wǎng)絡(luò)需要改變適配5G業(yè)務(wù)的需求。由此所帶來的延時(shí)問題和同步問題是5G測試首要解決的問題。這對(duì)于測試測量設(shè)備來說，就需要高精度的測試精度(ns級(jí))、要支持單向時(shí)延。需要在更多的網(wǎng)絡(luò)測試，更復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)維護(hù)下，同時(shí)也要保障精準(zhǔn)的時(shí)間測量。
同時(shí)，為了避免大量傳播損耗，5G需要采用波束成形子系統(tǒng)和天線陣列。測試新的波束成形IC需要采用 快速可靠的多端口測試方案。這些測試方案必須測試每條路徑的信號(hào)增益和相位控制，以確保適當(dāng)?shù)男盘?hào)細(xì)窄/尖銳程度(level tapering)和相位調(diào)整，從而減少旁瓣和正確控制波束的方向。
基于以上原因，使得5G測試方案開始朝著毫米波方向設(shè)計(jì)。因此，本振引入的系統(tǒng)相位噪音會(huì)成倍增加，甚可能占據(jù)主導(dǎo)地位，從而給組件測試帶來了極大的挑戰(zhàn)。測試儀器必須在FR1和FR2范圍內(nèi)均提供足夠的動(dòng)態(tài)范圍，以分析和驗(yàn)證這兩個(gè)5G頻段內(nèi)的組件性能是否一致。
但是，在實(shí)踐的過程中，業(yè)界又遇到了新的難題——伴隨著集成度的增加以及小型化的趨勢，使得許多波束形成系統(tǒng)不再適用天線連接器。而是采用天線整合芯片(AoC)和封裝天線(AiP)設(shè)備來實(shí)現(xiàn)毫米波頻率下的波束成形，但這種設(shè)備沒有可用的RF測試端口，迫使業(yè)界亟需尋找可以使用OTA輻射測試方法來進(jìn)行設(shè)備特性分析的測試系統(tǒng)。
在射頻測試中，OTA測試是指由測量天線接收然后再將信號(hào)傳入測試儀表的方法。OTA測試一般為了避免空間干擾信號(hào)與多徑，會(huì)在吸波暗室中進(jìn)行。但是，由于在5G頻率更容易受到環(huán)境條件影響而出現(xiàn)傳播損耗，因此OTA測試的一致性可能更差。同時(shí)，由于傳導(dǎo)耦合測試無法在沒有離散連接點(diǎn)的情況下執(zhí)行，因此將需要更頻繁地進(jìn)行OTA測試。