數(shù)字陣列測(cè)試功能、近場(chǎng)RCS測(cè)試功能、超材料及器件測(cè)試功能、通信天線三維方向圖測(cè)試功能。
數(shù)字陣列測(cè)試功能、近場(chǎng)RCS測(cè)試功能、超材料及器件測(cè)試功能、通信天線三維方向圖測(cè)試功能。
平面近場(chǎng)天線測(cè)量系統(tǒng)是利用天線的近場(chǎng)區(qū)幅相分布和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)幅相分布成數(shù)學(xué)傅里葉變換關(guān)系的原理，通過(guò)高精度三維采樣模塊（含平面近場(chǎng)掃描架和高性能微波探頭）和射頻控制系統(tǒng)（含超寬帶微波模塊及系統(tǒng)控制與處理單元）實(shí)現(xiàn)在天線近場(chǎng)區(qū)的幅度相位采集，通過(guò)對(duì)采集的幅相和位置數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換運(yùn)算，獲得被測(cè)天線的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)分布，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)天線的輻射參數(shù)，如方向圖、增益、極化特性等的分析。
主要功能:
?天線增益測(cè)試；
?天線方向圖：副瓣電平、波束寬度、差零深測(cè)試；
?天線近場(chǎng)診斷功能測(cè)試；
?多任務(wù)（多頻點(diǎn)、多通道、多波位等）測(cè)試功能；
?擴(kuò)展功能：數(shù)字陣列測(cè)試功能、近場(chǎng)RCS測(cè)試功能、超材料及器件測(cè)試功能、通信天線三維方向圖測(cè)試功能。
規(guī)格：
?工作頻段：0.5～40GHz；
?掃描架運(yùn)動(dòng)方式：立式平面近場(chǎng)掃描架，xyz三維直線運(yùn)動(dòng)+P軸極化旋轉(zhuǎn)；
?掃描架系統(tǒng)最大尺寸：30000×1240×16000；
?Z向行程：≥250；
?P軸：同軸交連0°～360°，5個(gè)限位；
?定位精度：XY向（RMS）：≤0.05mm，P軸：±0.05°；
?分辨率：XY向：≤0.025mm；
?平面度：機(jī)械（RMS）：≤0.1mm（未修正），機(jī)械（RMS）：≤0.05mm（光學(xué)修正），小型（4000×2000）以下（RMS）：≤0.025mm（光學(xué)修正）；
?掃描速度：最大400mm/S；
?探頭架承重：≥35kg；
?幅度精度（RMS）：0.5dB；
?相位精度（RMS）：2°；
?天線增益精度：0.3dB；
?副瓣電平精度：0.5dB@SLL=-35dB；
?副瓣電平測(cè)試精度：1.5dB@SLL=-45dB；
?同時(shí)多任務(wù)能力：≥300。